测定有机、无机物质的晶体结构，同时可获得样品的晶胞的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。可用于从分子结构出发设计分子器件、探索功能材料与结构的关系、新型催化剂的催化机理、纳米材料性能的解释、新型化合物的设计和表征。
X光源：Mo ,Cu双光源系统；探测器：4K CCD二维探测器；测角仪：固定κ轴的3轴测角仪；液氮低温系统：温度控制范围：90K ~ 400K，控温精度：+/– 0.1 K；循环水冷系统：水温、水压与流量满足发生器要求，有过热保护，能连续工作，控温精度优于2 K；软件：使用图形用户界面的单晶帧数据获取和成像软件，面探测器数据收集整体方案最优化组织软件；SHELXTL结构解析和精修软件。
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